HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀

nanoPartica SZ-100V2

納米粒度及Zeta電位分析儀

型號(hào)SZ-100-S2和SZ-100-Z2

能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。

納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過(guò)程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級(jí)控制可以有效實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運(yùn)行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

簡(jiǎn)單快捷的納米顆粒多參數(shù)分析！

一臺(tái)設(shè)備、三種功能，可對(duì)每個(gè)測(cè)量參數(shù)進(jìn)行高靈敏度、高精度的分析。

粒徑測(cè)量范圍0.3 nm ~ 10 µm

SZ-100V2 系列采用動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 原理測(cè)量顆粒粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了寬濃度范圍的樣品測(cè)量。

Zeta 電位測(cè)量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測(cè)量Zeta 電位值，通過(guò)Zeta電位可預(yù)測(cè)和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定。

分子量測(cè)量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過(guò)測(cè)量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過(guò)德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的絕對(duì)分子量 (Mw) 和第二維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì)，既可以測(cè)量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時(shí)也可以用于測(cè)量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。

使用單臺(tái)設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量

HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對(duì)其造成污染。樣品池容量（不低于容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會(huì)受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀 

SZ-100-S2 測(cè)量規(guī)格

*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。

SZ-100-Z2 測(cè)量規(guī)格（粒度和分子量測(cè)量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）

*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導(dǎo)率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。